Sylva G., Bellingeri E., Bernini C., Celentano G., Ferdeghini C., Leveratto A., Lisitskiy M., Malagoli A., Manca N., Mancini A., Manfrinetti P., Pallecchi I., Provino A., Putti M., Vannozzi A., Braccini V.
Ключевые слова: chalcogenide, FeSeTe, coated conductors, buffer layers, texture, thickness dependence, RABITS process, substrate Hastelloy, substrate Ni-W, X-ray diffraction, microstructure, resistive transition, magnetic field dependence, critical caracteristics, Jc/B curves, critical temperature, upper critical fields
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.